不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會結(jié)露。采用光電檢測技術(shù)，檢測出露層并測里結(jié)露時的溫度，直接顯示露點。鏡面制冷的方法有:半導體制冷、液氮制冷和高壓空=制冷。鏡面式露點儀采用的是直接測里方法，在保證檢露準確、鏡面制冷高效率和精密測里結(jié)露溫度前提下，該種露點儀可作為標準露點儀使用。目前國際上*高精度達到0.1C露點溫度)，一般精度可達到+05C以內(nèi)。

　2.電傳感器式露點儀

采用親水性材料或憎水性材料作為介質(zhì)，構(gòu)成電容或電阻，在含水份的氣體流經(jīng)后，介電常數(shù)或電導率發(fā)生相應(yīng)變化，測出當時的電容值或電阻值，就能知道當時的體水份含里。建立在露點單位制上設(shè)計的該類傳感器，構(gòu)成了電傳感器式露點分析儀。目前國際上*高精度達到t 1.0C露點溫度)， -般精度可達到3C以內(nèi)。

3.電介法露點儀

利用五氧化二磷等材料吸濕后分解成極性分子，從而在電極上積累電荷的特性，設(shè)計出建立在絕對含濕里單立制上的電解法微水份儀。目前國際上*高jing度達到土1.0C (露點溫度)，一般精度可達到土3C以內(nèi)。

4.晶體振蕩式露點儀

利用晶體沾濕后振蕩頻率改變的特性，可以設(shè)計晶體振蕩式露點儀。這是一項較新的技術(shù)，目前尚處于不十分成熟的階段。國外有相關(guān)產(chǎn)品，但精度較差且成本很高。

5.紅外露點儀

利用氣體中的水份對紅外光譜吸收的特性，可以設(shè)計紅外式露點儀。目前該儀器很難測到低露點，主要是紅外探測器的峰值探測率還不能達到微里水吸收的量級，還有氣體中其他成份含里對紅外光譜吸收的干擾。但這是一項很新的技術(shù)， 對于環(huán)境氣體水份含里的非接觸式在線監(jiān)測具有重要的意義。

6.半導體傳感器露點儀

每個水分子都具有其自然振動頻率，當它進入半導體晶格的空隙時，就和受到充電激勵的晶格產(chǎn)生共振，其共振頻率與水的摩爾數(shù)成正比。水分子的共振能使半導體結(jié)放出自由電子，從而使晶格的導電率增大，阻抗減小。利用這一特性設(shè)計的半導體露點儀可測到100C露點的微里水份。